Mbinu za mtihani na sheria za ukaguzi
1. Ukaguzi wa kundi kwa kundi (ukaguzi wa Kundi A)
Kila kundi la bidhaa linapaswa kuchunguzwa kulingana na Jedwali 1, na vitu vyote katika Jedwali 1 haviharibu.
Jedwali 1 Ukaguzi kwa Kila Kundi
| Kikundi | Kipengee cha ukaguzi | Mbinu ya Ukaguzi | Kigezo | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Mwonekano | Ukaguzi wa Visual (chini ya taa ya kawaida na hali ya maono) | Nembo ni wazi, mipako ya uso na mchovyo haina peeling na uharibifu. | 1.5 |
| A2a | Tabia za Umeme | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) katika JB/T 7624—1994 | Polarity ilibadilishwa: VFM>10USLIRRM>100USL | 0.65 |
| A2b | VFM | 4.1(25℃) katika JB/T 7624—1994 | Malalamiko kwa mahitaji | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) katika JB/T 7624—1994 | Malalamiko kwa mahitaji | ||
| Kumbuka: USL ndio thamani ya juu zaidi ya kikomo. | ||||
2. Ukaguzi wa mara kwa mara (ukaguzi wa Kundi B na Kundi C)
Kulingana na Jedwali la 2, bidhaa zilizokamilishwa katika uzalishaji wa kawaida zinapaswa kukaguliwa angalau kundi B na Kundi C kila mwaka, na vitu vya ukaguzi vilivyowekwa alama ya (D) ni majaribio ya uharibifu.Ikiwa ukaguzi wa awali haujahitimu, sampuli za ziada zinaweza kukaguliwa tena kulingana na Jedwali la Kiambatisho A.2, lakini mara moja tu.
Jedwali la 2 Ukaguzi wa Mara kwa Mara (Kundi B)
| Kikundi | Kipengee cha ukaguzi | Mbinu ya Ukaguzi | Kigezo | Mpango wa Sampuli | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Baiskeli ya halijoto (D) ikifuatiwa na kuziba |
| Kipimo baada ya mtihani: VFM≤1.1USLIRRM≤2USLsi kuvuja | 6 | 1 |
| CRRL | Kwa ufupi toa sifa zinazohusika za kila kikundi, VFMna mimiRRMmaadili kabla na baada ya mtihani, na hitimisho la mtihani. | ||||
3. Ukaguzi wa kitambulisho (ukaguzi wa kikundi D)
Bidhaa inapokamilika na kuwekwa katika tathmini ya uzalishaji, pamoja na ukaguzi wa kikundi A, B, C, mtihani wa kikundi D unapaswa pia kufanywa kulingana na Jedwali la 3, na vitu vya ukaguzi vilivyowekwa alama (D) ni majaribio ya uharibifu.Uzalishaji wa kawaida wa bidhaa zilizokamilishwa utajaribiwa angalau kundi moja la Kundi D kila baada ya miaka mitatu.
Ikiwa ukaguzi wa awali hautafaulu, sampuli za ziada zinaweza kukaguliwa tena kulingana na Jedwali la Kiambatisho A.2, lakini mara moja tu.
Mtihani wa Utambulisho wa Jedwali 3
| No | Kikundi | Kipengee cha ukaguzi | Mbinu ya Ukaguzi | Kigezo | Mpango wa Sampuli | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Mtihani wa mzigo wa mzunguko wa joto | Muda wa mzunguko: 5000 | Kipimo baada ya mtihani: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Mshtuko au mtetemo | 100g: kushikilia 6ms, nusu-sine waveform, maelekezo mawili ya shoka 3 pande perpendicular, mara 3 katika kila mwelekeo, jumla mara 18. 20g: 100 ~ 2000Hz, 2h ya kila mwelekeo, jumla 6h. | Kipimo baada ya mtihani: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Kwa kifupi toa data ya sifa inayofaa ya kila kikundi, VFM, IRRMna mimiDRMmaadili kabla na baada ya mtihani, na hitimisho la mtihani. | |||||
Kuashiria na Ufungaji
1. Weka alama
1.1 Weka alama kwenye bidhaa ni pamoja na
1.1.1 Nambari ya bidhaa
1.1.2 Alama ya utambulisho wa kituo
1.1.3 Jina la kampuni au alama ya biashara
1.1.4 Msimbo wa utambulisho wa sehemu ya ukaguzi
1.2 Nembo kwenye katoni au maagizo yaliyoambatishwa
1.2.1 Muundo wa bidhaa na nambari ya kawaida
1.2.2 Jina la kampuni na nembo
1.2.3 Alama za kuzuia unyevu na mvua
1.3 Kifurushi
Mahitaji ya ufungaji wa bidhaa yanapaswa kuzingatia kanuni za nyumbani au mahitaji ya mteja
1.4 Hati ya bidhaa
Mfano wa bidhaa, nambari ya kiwango cha utekelezaji, mahitaji maalum ya utendaji wa umeme, kuonekana, nk inapaswa kuwa alisema kwenye hati.
Thediode ya kulehemuzinazozalishwa na Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor hutumiwa sana katika welder upinzani, mashine ya kulehemu ya kati na ya juu ya mzunguko hadi 2000Hz au zaidi.Inayo kiwango cha juu cha voltage ya mbele zaidi ya chini, upinzani wa chini wa mafuta, teknolojia ya hali ya juu ya utengenezaji, uwezo bora wa kubadilisha na utendakazi thabiti kwa watumiaji wa kimataifa, diode ya kulehemu kutoka Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor ni moja ya kifaa cha kutegemewa cha nishati ya Uchina. bidhaa za semiconductor.
Muda wa kutuma: Juni-14-2023